JESD22
JEDEC的主要功能包括術語、定義、產品特征描述與操作、測試方法、生產支持功能、產品質量與可靠性、機械外形、固態存儲器、DRAM、閃存卡及模塊、以及射頻識別（RFID）標簽等的確定與標準化。
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標準編號
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JESD22-A100C:2007
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標準名稱
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濕熱循環偏壓壽命試驗
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試驗目的
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評估非固態封裝產品在溫度循環、高濕、偏壓及結露環境下。產品抗腐蝕和耐須晶生長性能。
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試驗方法/條件
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ramp time 2h～4h；storage 4h～8h；30~65℃,90%～98%RH
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嚴酷等級
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默認除非特例
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時間
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1008(-24,+168)h
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匹配設備
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HONGZHAN的J系列、LHU系列、SH系列、Walk-in等
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設備要求
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可編程交替溫濕度變化
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標準編號
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JESD22-A102D:2010
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標準名稱
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高加速蒸煮試驗
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試驗目的
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這個測試方法主要適用于抗濕熱的健壯性測試，通過高溫高壓飽和濕氣環境，引發分層或金屬化腐蝕等失效。主要針對新封裝材料及結構變化的考量。
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試驗方法/條件
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121±2℃,100%RH,205KPa
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嚴酷等級
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Condition A~F
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時間
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24(0,+2)h；48(0,+2)h；96(0,+5)h；168(0,+5)h;240(0,+8)h;336(0,+8)h
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匹配設備
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EHS-211、EHS-411
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設備要求
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高壓蒸煮設備
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標準編號
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JESD22-A103D:2010
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標準名稱
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高溫儲存壽命試驗
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試驗目的
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高溫存儲測試通常用于確定時間和
溫度對產品的影響。
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試驗方法/條件
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125(0,+10)℃；150(0,+10)℃；175(0,+10)℃；200(0,+10)℃；250(0,+10)℃；300(0,+10)℃；
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嚴酷等級
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Condition A~F
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時間
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Condition B 1000h or specifying in accordance with JESD47
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匹配設備
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HONGZHAN的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等
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設備要求
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試驗過程能穩定控溫
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標準編號
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JESD22-A104D:2009
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標準名稱
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溫度循環
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試驗目的
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本實驗用來確定組件、互聯器件對交替溫度極限變化產生的機械應力的耐受性。
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試驗方法/條件
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-55(+0,-10)/+85(+10,-0);-55(+0,-10)/+125(+15,-0); -65(+0,-10)/+150(+15,-0); -40(+0,-10)/+125(+15,-0); -55(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+115(+15,-0); -0(+0,-10)/+100(+15,-0); -0(+0,-10)/+125(+15,-0);-55(+0,-10)/+110(+15,-0); -40(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+85(+10,-0)
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嚴酷等級
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Condition A~N
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時間
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500~1000h根據具體條件指定
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匹配設備
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TCC、Global-N系列
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設備要求
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較高的溫變速率
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標準編號
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JESD22-A105C:2004
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標準名稱
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上電和溫度循環
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試驗目的
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適用于半導體器件，在交替的高低溫極限中周期的施加卸除偏壓，用于模擬樣件所遭受的最惡劣環境
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試驗方法/條件
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-40(+0,-10)℃～+85(+10,-0)℃ ramp time 20min ,dwell time 10min
-40(+0,-10)℃～+125(+10,-0)℃ ramp time 30min ,dwell time 10min
power on/off 5min
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嚴酷等級
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Typical condition A~B
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時間
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10 minutes at each extreme temperature
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匹配設備
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J系列、MC、AR系列、BTZ、Global-N系列
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設備要求
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具有可編程控制能達到指定的溫度變化數率
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標準編號
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JESD22-A106B:2004
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標準名稱
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熱沖擊
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試驗目的
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這個測試是為了確認樣品暴露于極端溫度變化的抵抗力和造成的影響。
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試驗方法/條件
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85(+10/-0)℃/-40(+0/-10)℃;100(+10/-0)℃/0(+0/-10)℃;125(+10/-0)℃/-55(+0/-10)℃;150(+10/-0)℃/-65(+0/-10)℃ TT less than 20s
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嚴酷等級
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Condition A~D
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時間
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協議商定
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匹配設備
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TSB
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設備要求
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液體導熱媒介
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標準編號
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JESD22-A107B:2004
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標準名稱
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鹽霧實驗
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試驗目的
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用來確定固態器件抵抗鹽霧腐蝕能力
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試驗方法/條件
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35(+3/-0)℃,沉降30±10克每平方米每24小時，pH 6.0~7.5.
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嚴酷等級
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Condition A~D
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時間
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24h;48h;96h;240h.
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匹配設備
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板橋理化的SQ系列
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設備要求
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適合完成中性鹽霧條件的試驗箱
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標準編號
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JESD22-A108D:2010
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標準名稱
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高溫環境條件下的工作壽命試驗
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試驗目的
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這個測試用于確定偏差的和溫度對固體器件的影響。短時間一種高溫偏壓的壽命測試,俗稱老化,可能被用來剔除早夭期相關故障。
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試驗方法/條件
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125℃/-10℃
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嚴酷等級
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由測試時間決定
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時間
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168h；336h；504h或另外商定
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匹配設備
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HONGZHAN的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等
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設備要求
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樣品在通電狀態下溫箱溫差控制在5攝氏度內
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標準編號
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JESD22-A110D
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標準名稱
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高加速壽命試驗
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試驗目的
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高加速溫濕度應力試驗是為評估非氣密性固態器件在潮濕及電偏壓的環境中的可靠性。
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試驗方法/條件
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130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;apply DC power
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嚴酷等級
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由所選溫度點決定
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時間
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96h;264h
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匹配設備
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EHS-211、EHS-411
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設備要求
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能夠達到指定的溫濕度條件，并且具備給試樣施加電偏壓的結構
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標準編號
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JESD22-A118A:2011
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標準名稱
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不上電的高加速濕氣滲透試驗
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試驗目的
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高加速溫濕度應力試驗是為評估非氣密性固態設備器件在潮濕的環境中的可靠性。
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試驗方法/條件
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130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;
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嚴酷等級
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由所選溫度點決定
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時間
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96h;264h
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匹配設備
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EHS-211、EHS-411
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設備要求
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能夠達到指定的溫濕度條件
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標準編號
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JESD22-B103B:2002
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標準名稱
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振動和掃頻試驗
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試驗目的
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這個測試是評估電氣設備組件。它的目的是確定組件)承受中度到重度的振動運動的結果 運輸或野外作業產生的。
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試驗方法/條件
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正弦掃頻實驗、隨機振動試驗
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嚴酷等級
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正弦掃頻實驗分8個等級；隨機振動試驗從試驗等級A~I
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時間
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正弦1decade/min掃過指定等級的規定的頻率范圍，4次每個軸,3個軸；隨機每個軸30分鐘，3個軸
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匹配設備
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DC-3200-36
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設備要求
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電磁振動臺
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